Ключевые слова: patents, HTS, coated conductors, critical caracteristics, critical current density, angular dependence, Jc/B curves, coils, fabrication
Rupich M.W., Zhang W., Feenstra R., Wong-Ng W., Levin I., Yang Z., Otani M., Cook L., Liu G., Schenck P.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, fabrication, phase composition, phase diagram, RABITS process, substrate SrTiO3
Neumueller H.W., Schmidt W., Thieme C., Li X., Zhang W., Otto A., Yuan J., Maguire J., Folts D., Kraemer H., Wohlfart M.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, YBCO, review, cables, FCL, power equipment
Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Strickland N.M., Huang Y., Xia J., Long N.J., Hoefakker P., Talantsev E.F.
Miller D.J., Maroni V.A., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Chen Z., Holesinger T.G., Larbalestier D.C., Feenstra R., Coulter J.Y., Civale L., Maiorov B., Feldmann D.M., Huang Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, nanoscaled effects, microstructure, chemical solution deposition, fabrication, nucleation, porosity, critical current, n-value, homogeneity, thickness dependence, pinning force, MOD process, critical current density, angular dependence, RABITS process, PLD process, Jc/B curves, critical caracteristics
Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Strickland N.M., Huang Y., Xia J.A.(j.xia@irl.cri.nz), Long N.J., Hoefakker P., Talantsev E.F.
Ключевые слова: HTS, YBCO, doping effect, coated conductors, MOD process, defects, critical current density, angular dependence, fabrication, critical caracteristics
Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Holesinger T.G., Coulter J.Y., Civale L., Maiorov B., Huang Y.
Rupich M.W., Thieme C.L., Schoop U., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Nguyen N., Siegal E., Buczek D., Lynch J., Verebelyi D.T., Aized D., Huang Y., King C., Carter W., Schreiber J., Prasova M., Tucker D., Harnois R.
Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Strickland N.M., Huang Y., Xia J., Long N.J., Kennedy J., Markwitz A., Zondervan A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, MOD process, coated conductors, ion irradiation, defects, critical current, angular dependence, pinning, experimental results, critical caracteristics, fabrication
Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Goyal A., Aytug T., Paranthaman M.P., Leonard K.J., Sathyamurthy S., Bhuiyan M.S., Kim K., Martin P.M., Li J., Fayek M.
Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Goyal A., Specht E.D., Paranthaman M., Martin P.M., Li J., Gapud A.
Miller D.J., Maroni V.A., Rupich M.W., Thieme C.L., Schoop U., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Siegal E., Goyal A., Specht E.D., Verebelyi D.T., Holesinger T.G., Paranthaman M.P., Martin P.M., Civale L., Maiorov B., Li J., Huang Y.
Rupich M.W., Schoop U., Thieme C., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Nguyen N., Siegal E., Jia Q.X., Verebelyi D.T., Chen Z., Holesinger T.G., Larbalestier D.C., Civale L., Maroni V., Maroni V., Huang Y., Rane M.V., Rane M.V., Feldman D.M.
Rupich M.W., Thieme C.L., Schoop U., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Nguyen N., Siegal E., Buczek D., Lynch J., Verebelyi D.T., Fleshler S., Huang Y., Carter W., Schreiber J., Prasova M., Tucker D.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors multifilamentary, filaments, geometry effects, ac losses, inkjet printing
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOD process, pinning, defects, microstructure, doping effect, presentation, fabrication
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.